报告题目：集成电路测试基础介绍
报告人：黎绍鑫
报告时间：2023年12月2日上午9:30-10:20
报告地点：秀山校区振华图书馆大明报告厅
主办单位：微电子与数据科学学院、创新教育学院、教务处、马鞍山产业学院
报告对象：马鞍山产业学院全体学生、微电子、集成电路和电子信息领域师生
内容摘要：半导体测试基本流程、术语介绍，CP和FT测试机架构及流程介绍。
报告人简介：黎绍鑫，男，1986年4月生，2005-2009年就读于安徽大学电子学院，2009-2012年就读于南京理工大学电光学院，硕士研究生学历，12年微电子行业从业经验，有着丰富的数字IC设计、FPGA开发和使用经验，精通基于FPGA的复杂系统架构设计与实现。
2012年4月-2017年3月，在中兴通讯微电子院(南京)和德普达电子技术有限公司从事数字IC设计、ZYNQ7000 SOC等7系列FPGA的开发和应用工作；
2017年3月-2022年3月，在科大讯飞某全资子公司，担任高级研发工程师，主导AI算法的加速（DNN/RNN/CNN）IP core设计、验证、应用及国产化芯片（FPGA或PSOC）替代开发和应用等工作，并撰写6篇发明专利，均为第一作者；
2022年3月-至今，就职于讯喆微电子（合肥）有限公司，担任技术研发部负责人，主导半导体测试行业高端板卡及设备的开发设计，用于设备的本土化替代，以减少对国外厂商的依赖。撰写3篇发明专利，均为第一作者；5篇实用新型专利，为第二作者。
